高速串行總線各種新興標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)不斷挑戰(zhàn)設(shè)計(jì)和測試測量，若干年來DDR技術(shù)已經(jīng)經(jīng)歷了1-4，JEDEC的標(biāo)準(zhǔn)更新針對(duì)DDR5/6不斷有新版本發(fā)布，當(dāng)前主流仍采用DDR4、LPDDR4X，泰克也一直跟蹤標(biāo)準(zhǔn)最新進(jìn)展并為工程師工作，致力于成為客戶設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)的真正延伸，努力將突破性創(chuàng)新推向市場。

LPDDR4標(biāo)準(zhǔn)是行業(yè)領(lǐng)先的低功耗易失性（DRAM）存儲(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)，用于存儲(chǔ)系統(tǒng)代碼，軟件應(yīng)用和用戶數(shù)據(jù)。

由于應(yīng)用領(lǐng)域的特殊性，DDR總線對(duì)傳輸延時(shí)的要求特別高，數(shù)據(jù)傳輸和流程控制直接通過多種不同功能的信號(hào)線同步協(xié)作來完成，典型的信號(hào)線包括時(shí)鐘、DQS、地址、控制和數(shù)據(jù)信號(hào)，僅數(shù)據(jù)信號(hào)線就高達(dá)64根，并且地址、控制和數(shù)據(jù)信號(hào)均使用單端信號(hào)的方式來傳輸，測試挑戰(zhàn)很大。

客戶面臨三大挑戰(zhàn)，讀寫分離、信號(hào)采集、復(fù)雜的標(biāo)準(zhǔn)和繁多的測量項(xiàng)。

DDR測試三大挑戰(zhàn)

1. 讀寫分離

為了保證傳輸?shù)男?，DDR通過相同的DQ和DQS信號(hào)，使用分時(shí)的方式進(jìn)行數(shù)據(jù)讀取(Read)和數(shù)據(jù)寫入(Write)的操作，用戶很難在一次數(shù)據(jù)采集中僅捕獲Read或者僅捕獲Write信號(hào)。

而Read和Write的測量標(biāo)準(zhǔn)，尤其是時(shí)序方面是完全不同的。這就為DDR的測量帶來了一個(gè)難題，如何才能準(zhǔn)確地分離Read和Write，從而分別進(jìn)行測量？

2. 信號(hào)采集

無論是DIMM內(nèi)存條，還是On-board Chip，如何尋找最佳的測試點(diǎn)，采集到最佳的DDR信號(hào)永遠(yuǎn)是一個(gè)挑戰(zhàn)性的問題。DDR信號(hào)采集必須在最靠近傳輸線末端的位置，否則信號(hào)的反射會(huì)非常明顯。

絕大部分DDR待測物并不會(huì)預(yù)留專門的靠近接收端的測試點(diǎn)，甚至連過孔都沒有，用戶經(jīng)常面臨找不到測試點(diǎn)，或者測試點(diǎn)遠(yuǎn)離接收端導(dǎo)致信號(hào)質(zhì)量很差。

3. 復(fù)雜的標(biāo)準(zhǔn)和繁多的測量項(xiàng)

DDR包含多種不同的信號(hào)類型，時(shí)鐘、DQS、數(shù)據(jù)、地址和控制信號(hào)，每種不同類型的信號(hào)都有大量專門的測量項(xiàng)需要分別進(jìn)行測量，學(xué)習(xí)和掌握這些測試方法對(duì)工程師并不容易。

泰克科技LPDDR4測試方案

Cadence IP支持JEDEC LPDDR4X/4/3和DDR4標(biāo)準(zhǔn)，提供了成熟的，功能強(qiáng)大的兼容性驗(yàn)證解決方案，適用于知識(shí)產(chǎn)權(quán)（IP）、片上系統(tǒng)（SoC）和系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證。LPDDR4X在LPDDR4的基礎(chǔ)上進(jìn)一步將I / O電壓從1.1V降低到0.6V來節(jié)省更多功率，支持的 DATA RATE 高達(dá)4266MT/s，旨在滿足最新一代移動(dòng)設(shè)備(如智能電話、平板電腦、超薄筆記本電腦)，以及高級(jí)輔助駕駛系統(tǒng)(ADAS)和L3/L4自動(dòng)駕駛應(yīng)用對(duì)高性能和高存儲(chǔ)密度的要求。

作為Cadence在南京的全資子公司，南京凱鼎電子科技有限公司是一家EDA和IP設(shè)計(jì)服務(wù)提供商，在DDR IP方面，凱鼎電子開發(fā)了基于SMIC14SFP工藝的DDR4、LPDDR4以及LPDDR4X 接口的IP, LPDDR4以及LPDDR4X的速率可達(dá)4266MT/s，是目前國內(nèi)基于SMIC14SFP工藝的最高速率DDR IP。

“ 在DDR IP的驗(yàn)證中，我們采用的是Tektronix高帶寬實(shí)時(shí)示波器+DDRA 分析軟件的解決方案。Tektronix解決方案為我們提供了細(xì)致全面而且十分便捷的各項(xiàng)參數(shù)測量及分析，對(duì)我們提高測試測量效率有非常大的幫助和貢獻(xiàn)?！?

—— Cadence南京工程師表示

泰克助您應(yīng)對(duì)三大測試挑戰(zhàn)

對(duì)于讀寫分離問題，泰克使用獨(dú)有的Search & Mark功能，基于Read和Write之間細(xì)微的差別，比如相位、幅度、Preamble長度、控制信號(hào)狀態(tài)，來準(zhǔn)確定位并精確測量波形中所有的Read或Write，輕松解決讀寫分離難題。

對(duì)于信號(hào)采集問題，泰克和合作伙伴Nexus推出DDR專用的Interposer夾具，在保證信號(hào)采集質(zhì)量的同時(shí)，使得信號(hào)的獲取變得非常簡單。還可以利用SDLA軟件對(duì)夾具進(jìn)行去嵌處理，消除夾具帶來的信號(hào)完整性損失。

面對(duì)復(fù)雜的標(biāo)準(zhǔn)和繁多的測量項(xiàng)，泰克的DDRA軟件支持所有DDR相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，包括DDR1/2/3/4,LPDDR1/2/3/4/4X,GDDR3/5，支持JEDEC標(biāo)準(zhǔn)中所有信號(hào)完整性相關(guān)的測量項(xiàng)，幫助工程師輕松完成測量任務(wù)。