示波器作為精密測量儀器，在其設計與制造過程中，高溫環(huán)境下的穩(wěn)定性測試是確保產品可靠性的關鍵步驟之一。為了驗證示波器在高溫環(huán)境下的工作性能，我們進行了一項2小時30分鐘的高溫（50℃）實驗，通過數據采集器實時監(jiān)測多路交直流電壓、電流和溫度變化。本文將詳細介紹實驗方案、測試過程及結果分析。

01 實驗目的

驗證高溫耐受性：評估關鍵元器件在50℃環(huán)境中的溫度穩(wěn)定性。

監(jiān)測交直流電壓/電流：確保交直流供電路徑在高溫下的可靠性。

02 實驗設備

示波器：測試對象，內部電路板包含多個關鍵元器件。

數據采集器：選擇支持多通道的數采系統(tǒng)，用于實時記錄多路溫度、交直流電壓和電流數據。

高溫實驗箱：提供恒定的高溫環(huán)境，目標溫度為 50℃。

03 關鍵測試點

溫度：ARM、FPGA、ADC、CH1-6518、CH2-6518、電源模塊（+5V/-5V）、整流橋、變壓器。

電壓：3.3V、1.2V、2.5V、+5V、-5V DC 電壓，以及 AC 電壓。

電流：關鍵電流路徑的電流值。

04 實驗步驟

● 準備工作：

○ 對各個測試點粘熱電偶和連接線。

○ 將示波器放入高溫實驗箱。

○ 配置數據采集器各通道的傳感器類型。

● 設置實驗參數和實驗啟動：

○ 設置高溫實驗箱的目標溫度為 50℃。

○ 啟動數據采集器，開始實時記錄各測試點的數據。

● 實驗過程：

○ 實驗時長為 2 小時 30 分鐘，期間數據采集器持續(xù)記錄溫度、電壓和電流數據。

○ 實驗結束后，關閉高溫實驗箱并導出數據。

05 測試結果分析

● 溫度數據（實驗分上午、下午兩階段，下午更換采集器）

關鍵結論：

○ 所有元器件溫度均低于最高耐受溫度，均在安全閾值內。

○ 下午更換采集器后溫度微升（約1-2℃），可能與設備散熱 累積有關。

● 電壓數據（實驗分上午、下午兩階段，下午更換采集器）

關鍵結論：

○ 交直流電壓波動在正常范圍內，完全符合設計要求。

○ 電源路徑電流未出現異常跳變，表明供電系統(tǒng)穩(wěn)定。

● 異?，F象

在實驗前的溫度箱靜置過程中，示波器在高溫實驗箱不運行的情況下出現了大毛刺現象。

06 實驗結論和改進

● 結論：示波器在 50℃ 高溫環(huán)境下能夠穩(wěn)定工作，所有關鍵元器件的溫度、電壓和電流值均處于正常范圍內。

● 改進：

○ 延長測試時間，驗證長期穩(wěn)定性。

○ 增加低溫、高濕等復雜條件，全面評估環(huán)境適應性。

○ 分析“大毛刺”異?，F象的原因。

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