5G產業(yè)的迅猛發(fā)展，為整個行業(yè)的上下游帶來了巨大的商機，從芯片、元器件生產廠商、設備制造商、網絡服務提供商。5G技術的復雜度也呈指數(shù)級增長。例如，大規(guī)模MIMO天線需要對每個天線單元進行多次傳輸和反射測量。

不論放大器、混頻器或者轉換器，元器件生產廠商都需要采取有效的測試策略以表征其性能。為了贏得5G的市場，元器件廠商需要確保整個工作流程的高效、可靠。而測量的完整性對于評判研發(fā)的設計方案至關重要。元器件生產廠商還需要加快產品上市時間并降低測試成本，以保持競爭優(yōu)勢。

策略1、優(yōu)化測試儀器，提升多端口設備測試效率

多端口測試是5G元器件測試所面臨的諸多挑戰(zhàn)之一。大規(guī)模MIMO需要大量的多端口測試以表征天線的性能。5G NR頻段1(FR1)需要多達66個端口：8x8 MIMO配置需要64個端口用于天線測量，通常還需要另外兩個校準端口。

5G元器件的端口數(shù)量也越來越多。對元器件的多端口測試需求在不斷增長。針對多端口測量而優(yōu)化的儀器可以確保待測件的全面評估，有助于實現(xiàn)精準的性能驗證和更高的準確性，從而提高測量吞吐量，降低測試成本。

傳統(tǒng)上采用基于開關矩陣的矢量網絡分析方案來進行多端口器件的測試。但是，許多多端口設備需要從一個端口遍歷測試到其他所有端口，簡單的開關矩陣方式無法滿足此要求?，F(xiàn)代多端口設備對測試的速度和精度提出了更高的要求。

隨著端口數(shù)量的增加，從測試端口切換到各個待測端口的次數(shù)也在飛速增加，開關衰減對動態(tài)范圍、測試性能的影響也越來越明顯。真正的多端口矢量網絡分析儀由于不需要開關矩陣，因此其損耗會大大減小。其動態(tài)范圍更大，測試速度更快！

策略2、利用不同的平臺來應對不同的測試要求

儀表具有不同的外形尺寸：臺式、模塊化或USB連接。不同外形的儀表有其自身的優(yōu)勢，并在從研發(fā)、設計驗證到生產制造的不同階段得到采用。元器件生產廠商需要確定測試策略，以充分利用各個外形尺寸的優(yōu)勢以滿足工作流程要求。

模塊化平臺更適用于大批量元器件生產和大規(guī)模MIMO的測試。

元器件的生產測試中，靈活性是非常重要的。模塊化儀器可以在同一個機箱內集成多臺儀器(信號發(fā)生器，信號分析儀，網絡分析儀等)，組合成強大的測試系統(tǒng)，并最大程度地減少了系統(tǒng)的規(guī)模。

配置的靈活性使元器件生產廠商的測試系統(tǒng)與他們的應用需求保持一致，也能夠根據(jù)他們應用的變化而擴展配置，既節(jié)省了測試平臺的占用空間，也大大節(jié)省了測試成本。

策略3、利用多站點測試，實現(xiàn)多用戶測試平臺共享，提升產出率

5G的競爭中，時間至關重要。元器件生產廠商可以在實施多端口測試的同時進行多站點配置，以提升測試吞吐量。多站點測試是在同一機箱內運行多個VNA，同時測試多個待測件，降低了測試時間。

并行多站點測試，提升測試吞吐量的同時，也降低了測試成本。對于無源器件、濾波器、天線、線纜等生產廠商具有極大的吸引力。過往需要利用多臺儀表組成機柜來進行的多站點測試，現(xiàn)在的模塊化儀表可以集成在一個小小的機箱內完成，更加快速、靈活和便捷。

同時測試多個相同的待測件

同時測試不同的待測件

策略4、以更低的成本實現(xiàn)更快、更全面的生產測試

在5G的競爭中，元器件生產廠商需要對其產品進行快速、全面的測試，以滿足其客戶更加嚴苛的要求。高產出率、高可靠性以及如何降低測試成本，是元器件生產廠商所面臨的挑戰(zhàn)。

測試設備的性能和可靠性是測試成本中最重要的考量因素：優(yōu)異的性能有助于提高生產的精度、速度以及吞吐率。

與此同時，超長的儀表計量校準周期、穩(wěn)定的測試狀態(tài)、供應商的及時響應等等，也都是產線可靠運行、提升產量的關鍵因素，需要元器件生產廠商綜合權衡。

策略5、使用通用的軟、硬件來部署產線測試方案

元器件生產廠商通常會在研發(fā)、設計驗證、批量生產的不同階段采用不同的測試平臺。而適用于不同平臺的通用的操作界面和測試功能，則便于不同階段的使用者接手，保持全流程的測試順暢。

對于元器件測試來說，測試平臺的硬件性能更是至關重要的：動態(tài)范圍、測試速度、跡線噪聲、穩(wěn)定穩(wěn)定性等等。不同階段采用的不同硬件之間的性能保持一致或者差異很小，則有助于最終產品的穩(wěn)定和高質量。

以Keysight的M980xA系列PXI VNA、P50xA系列USB VNA和E5080B 臺式VNA為例，其核心硬件保持了一致，從而保證了其性能也是的一致性。借助于通用的測試應用軟件，為元器件生產廠商提供了高性能、高可靠、同時具有綜合成本優(yōu)勢的測試平臺，從容應對5G元器件測試的挑戰(zhàn)。