近日，同門科技攜旗下多款高性能測(cè)試儀器新品強(qiáng)勢(shì)登場(chǎng)，正式推出DMM-2雙通道直流穩(wěn)壓電源系列、R系列數(shù)碼管可編程直流電源、E150系列電子負(fù)載以及電機(jī)綜合測(cè)試儀。此系列新品在精度、智能化與集成度上全面升級(jí)，旨在為工業(yè)自動(dòng)化、科研教育、電力電子及智能制造等領(lǐng)域提供更加強(qiáng)大和靈活的測(cè)試解決方案。
DMM-2雙通道直流穩(wěn)壓電源系列：靈活可靠的雙通道輸出
DMM-2雙通道直流穩(wěn)壓電源系列，是一款可編程直流穩(wěn)壓穩(wěn)流電源，操作便捷，每通道3組參數(shù)存儲(chǔ)。LED數(shù)字顯示，同時(shí)顯示電壓、電流、功率，信息全面易讀。該電源有兩個(gè)獨(dú)立的輸出通道，可以獨(dú)立使用或同步輸出。智能輸出模式，自動(dòng)CV/CC切換。標(biāo)配多種接口，支持標(biāo)準(zhǔn)工業(yè)協(xié)議(MODBUS RTU)，便于自動(dòng)化控制，高精度選件。且應(yīng)用領(lǐng)域廣泛，可用于產(chǎn)品老化測(cè)試與工業(yè)設(shè)備維修、教育科研機(jī)構(gòu)、電力電子研究等場(chǎng)景。這款電源在功能、安全性、易用性和可集成性方面都表現(xiàn)出色。
R系列數(shù)碼管可編程直流電源：高功率密度與動(dòng)態(tài)模擬能力強(qiáng)
R系列數(shù)碼管可編程直流穩(wěn)壓電源包括1U半寬、2U半寬、2U全寬三款標(biāo)準(zhǔn)尺寸機(jī)箱電源，主打高功率密度與高性能輸出控制，突出特點(diǎn)在于：通過(guò)CV/CC優(yōu)先權(quán)設(shè)置和優(yōu)化的設(shè)計(jì)，有效降低輸出切換時(shí)的過(guò)沖風(fēng)險(xiǎn)。強(qiáng)大的List功能支持上百點(diǎn)的動(dòng)態(tài)工況模擬。安靜耐用， 智能溫控風(fēng)扇降低噪音并延長(zhǎng)壽命。易于集成，機(jī)架式結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)且標(biāo)配多種通信接口支持SCPI協(xié)議。其應(yīng)用領(lǐng)域廣泛，適用于自動(dòng)化測(cè)試與老化測(cè)試，電解電鍍，半導(dǎo)體與智能制造等場(chǎng)景。
E150系列電子負(fù)載：多功能、高精度、全保護(hù)
E150 系列電子負(fù)載，采用三組四位數(shù)碼管，獨(dú)立顯示電壓、電流、功率參數(shù)；外置遠(yuǎn)程感應(yīng)補(bǔ)償接口，提高精確度；同時(shí)配有豐富的測(cè)試功能與多種模式可供選擇。設(shè)備標(biāo)配通信模塊，靈活滿足各種現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試條件，方便與自動(dòng)化生產(chǎn)線、自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)（ATS）無(wú)縫連接。內(nèi)置過(guò)壓、欠壓、過(guò)流、過(guò)功率、過(guò)熱、防反接、電源啟動(dòng)保護(hù)等多重安全機(jī)制。支持CV（恒壓）、CC（恒流）、CP（恒功率）、CR（恒阻）四種基礎(chǔ)模式。性能卓越：測(cè)試范圍0~150W，0~150V，0~30A；高達(dá)1mV/1mA分辨率；動(dòng)態(tài)電流測(cè)試速率5K，電壓電流測(cè)試速度可達(dá) 30KHz。應(yīng)用廣泛，可用于電源設(shè)備測(cè)試與研發(fā)、電池測(cè)試與管理、教育與科研、快充與消費(fèi)電子等場(chǎng)景。
電機(jī)綜合測(cè)試儀：專為微特電機(jī)研制與檢測(cè)設(shè)計(jì)
電機(jī)綜合測(cè)試儀主要由直流穩(wěn)壓穩(wěn)流電源、計(jì)算機(jī)信號(hào)處理、驅(qū)動(dòng)電路組成。為微型步進(jìn)電機(jī)提供驅(qū)動(dòng)電源，可以提供正反方向、三種拍序以及四種工作方式。用于微型步進(jìn)電機(jī)研制、生產(chǎn)時(shí)試驗(yàn)、老化。且適用于各類微特直流電機(jī)（包括音響專用電機(jī)、玩具直流電機(jī)、手機(jī)振子電機(jī)等各種三極/五極的直流電機(jī)）的多種性能參數(shù)檢測(cè)。
同門科技此次亮相的多款產(chǎn)品，不僅在精度、功能與可靠性方面表現(xiàn)優(yōu)異，更在系統(tǒng)集成與通信協(xié)議支持上貼合現(xiàn)代工業(yè)與科研需求，有望成為各類測(cè)試場(chǎng)景中的理想之選。
